修了生
令和2年度 | |
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温 偉辰 (中島・王研博士) Study on defect characterization of Ge gate stacks using deep-level transient spectroscopy (DLTS法を用いたGeゲートスタックの欠陥評価に関する研究) |
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鹿子木 嘉城 (中島・王研修士) Study on high quality gate stack on Ge with transition metal oxide |
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清水 昇 (中島・王研修士) 高品質Ge-on-Insulator 作製と電子デバイス応用に関する研究 |
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菅田 桂輔 (中島・王研修士) Ge 光素子の発光特性調査と発光強度向上に関する研究 |
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令和元年度 | |
井芹 健人 (中島・王研修士) 新規電子デバイス応用に向けたGeゲートスタックの低温形成に関する研究 |
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岡 龍誠 (中島・王研修士) 3C-SiC上への高品質ゲートスタック形成とデバイス化に関する研究 |
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薛 飛達 (中島・王研修士) Ge-on-Insulator基板を用いた非対称金属/Ge/金属構造光素子の作製と素子間光通信の実証 |
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平成30年度 | |
前蔵 貴行 (中島・王研博士) 研究テーマ:Fabrication and evaluation of asymmetric metal/Ge/metal diodes for intra-chip optical interconnect |
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秋山 健太郎 (中島・王研修士) 研究テーマ:イットリウム酸化物を用いたGe MOS構造の高品質化に関する研究 |
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後藤 太希 (中島・王研修士) 研究テーマ:非対称―金属/Ge/金属構造光素子の発行特性向上に関する研究 |
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仲江 航平 (中島・王研修士) 研究テーマ:スマートカット法によるGe-on-Insulator基板の作製と高品質化に関する研究 |
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平成29年度 | |
板屋 航 (中島研修士) 研究テーマ:Ge-on-Insulator基板の作製とデバイス応用に関する研究 |
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坂口 大成 (中島研修士) 研究テーマ:メタル・ソース/ドレイン型Ge-CMOSの高性能化に関する研究 |
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田中 健太郎 (中島研修士) 研究テーマ:ULSIのチップ内光配線に向けたGe光素子の開発 |
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平成28年度 | |
永冨 雄太 (中島研博士) 研究テーマ:メタル・ソース/ドレイン型Ge-CMOSのためのデバイス化技術に関する研究 |
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岡本 隼人 (中島研修士) 研究テーマ:金属/Ge接合の電気特性制御とその応用に関する研究 |
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織田 知輝 (中島研修士) 研究テーマ:高性能メタル・ソース/ドレイン Ge-MOSFETの開発 |
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本山 千里 (中島研修士) 研究テーマ:非対称-金属/Ge/金属構造光素子の高性能化 |
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平成27年度 | |
田中 慎太郎 (中島研修士) 研究テーマ:メタル・ソース/ドレイン型Ge-MOSFETの高性能化 |
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前蔵 貴行 (中島研修士) 研究テーマ:Influences of metal/Ge contact and surface passivation on direct band gap light emission and detection for asymmetric metal/Ge/metal diodes |
平成26年度 |
長岡 裕一 (中島研修士) 研究テーマ:原子層堆積法による高品質ゲートスタックの低温形成 |
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山本 裕介 (中島研修士) 研究テーマ:p型3C-SiCへのMOS構造形成とGe上への低正孔障壁コンタクトの形成 |
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平成25年度 | |
亀沢 翔 (中島研修士) 研究テーマ:低障壁な金属/Geコンタクトを用いた電子・光デバイスの試作 |
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永冨 雄太 (中島研修士) 研究テーマ:高性能Ge-MOSデバイスの為の高誘電率ゲートスタックの低温形成 |
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村山 亮介 (中島研修士) 研究テーマ:高温動作CMOS実現に向けた3C-SiCの基盤技術に関する研究 |
平成24年度 |
山本 圭介 (中島研博士) 研究テーマ:高性能Ge-CMOSの為のデバイス化技術に関する研究 |
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朝川 幸二朗 (中島研修士) 研究テーマ:TiN堆積によるSi結晶への超低電子障壁コンタクト形成 |
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小島 秀太 (中島研修士) 研究テーマ:高性能Ge-MOSFETのための高誘電率ゲートスタックの低温形成 |
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佐田 隆宏 (中島研修士) 研究テーマ:高性能メタル・ソース/ドレイン型Ge p-MOSFETの開発 |
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平成23年度 | |
坂本 敬太 (中島研修士) 研究テーマ:高性能Ge-MOSデバイスの為のゲートスタック構造の形成 |
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原田 健司 (中島研修士) 研究テーマ:局所歪み導入によるMOSデバイスの高性能化 |
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山中 武 (中島研修士) 研究テーマ:高性能Ge-MOSデバイスの開発 |
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平成22年度 | |
平山 佳奈 (中島研博士) 研究テーマ:高性能ULSIのためのGe-MOS構造形成に関する研究 |
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井餘田 昌俊 (中島研修士) 研究テーマ:TiN堆積によるn形Ge結晶への低抵抗コンタクト形成 |
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岩村 義明 (中島研修士) 研究テーマ:Ge上への高誘電率ゲートスタック構造の形成 |
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上野 隆二 (中島研修士) 研究テーマ:高品質Ge-MOS構造の形成とデバイス応用 |
平成21年度 |
池浦 奨悟 (中島研修士) 研究テーマ:酸化濃縮法で作成したSiGe-On-Insulator基板中の欠陥制御 |
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吉野 圭介 (中島研修士) 研究テーマ:Ge基板上への高品質ゲート絶縁膜の形成 |
平成20年度 |
吉良 渉 (中島研修士) 研究テーマ:Ge結晶への高誘電率ゲート絶縁膜形成 |
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小嶋 慧 (中島研修士) 研究テーマ:絶縁膜上の半導体層および半導体/絶縁膜界面の電気的評価 |
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真栄田 祐 (中島研修士) 研究テーマ:Ge結晶へのショットキーおよびpn接合形成 |
平成19年度 |
平山 佳奈 (中島研修士) 研究テーマ:Ge上の絶縁膜形成と電気的評価 |
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梶原 誠生 (中島研修士) 研究テーマ:MOS構造に於けるメタルゲートの仕事関数制御 |
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末廣 雄策 (中島研修士) 研究テーマ:Si及びGe-MISFET用高誘電率ゲート絶縁膜の形成 |
平成18年度 |
杉本 陽平 (中島研博士) 研究テーマ:ULSI用高誘電率ゲートスタック構造の形成に関する研究 |
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石川 康之 (中島研修士) 研究テーマ:SOIウェーハに於ける基板とSOI層の欠陥評価 |
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中野 喜崇 (中島研修士) 研究テーマ:固相成長法による多結晶GeおよびSiGe薄膜の低温形成 |
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山本 圭介 (中島研修士) 研究テーマ:ULSI用高誘電率ゲートスタック構造の形成とデバイス特性 |
平成17年度 |
寺川 武士 (中島研博士) 研究テーマ:両面受光太陽電池製造における鉄ゲッタリングに関する研究 |
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高田 秀樹 (中島研修士) 研究テーマ:接合過渡容量法によるSOIおよびSGOI基板の電気的評価 |
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吉村 雄樹 (中島研修士) 研究テーマ:MOSFET用TaNゲート電極の形成とデバイス特性 |
平成16年度 |
Luu Hoai Nam (中島研博士) 研究テーマ:ECRプラズマ照射によるシリコン酸化膜と窒化膜の低温成長 |
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安達 秀任 (中島研修士) 研究テーマ:次世代LSI用Hf系高誘電率絶縁膜の形成 |
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上田 麻美 (中島研修士) 研究テーマ:次世代LSI用薄膜SOIウェーハの電気的評価 |
平成15年度 |
井谷 耕輔 (中島研修士) 研究テーマ:SOIウェーハ中の電気的活性欠陥の評価 |
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杉本 陽平 (中島研修士) 研究テーマ:高品質多結晶シリコンの低温形成に関する研究 |
平成14年度 |
牧山 和也 (中島研修士) 研究テーマ:ECRプラズマによるSi酸化膜の形成と評価 |
平成13年度 |
Wang Junli (村岡研博士) 研究テーマ:電子サイクロトロン共鳴プラズマスパッタリングによるエピタキシャルSi薄膜の形成と評価 |
斉藤 大士(中島研修士) 研究テーマ:ポリシリコン薄膜の低温成長 |
野口 隆史(中島研修士) 研究テーマ:SOI構造Si薄膜の欠陥評価 |
平成12年度 |
森住 知典(内野研修士) 研究テーマ:有機ELデバイス用保護膜の開発 |
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平成11年度 | |
岩永 香奈子(村岡研修士) 研究テーマ:電子サイクロトロン共鳴プラズマスパッタリングによるエピタキシャルSi薄膜の形成と評価 |
平成10年度 |
境 直史(村岡研修士) 研究テーマ:電子サイクロトロン共鳴プラズマスパッタ法によるSiエピタキシャル薄膜の低温形成に関する研究 |
松尾 慎一郎(鶴島研修士) 研究テーマ:ECRプラズマを用いたSi酸化膜の低温成長におけるイオン照射効果及び基板バイアスの効果 |
平成9年度 |
Gao Dawei(村岡研博士) 研究テーマ:"Studies of deposition of high-quality silicon oxide and oxynitride films at low temperature using sputtering-type electron cyclotron resonance plasma" |
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柏崎 泰宏(村岡研修士) 研究テーマ:電子サイクロトロン共鳴プラズマスパッタ法によるシリコン酸窒化膜の低温形成 |
山本 光芳(鶴島研修士) 研究テーマ:ECRプラズマによるシリコン酸化膜の低温成長 |
平成8年度 |
芝田 圭市(鶴島研修士) 研究テーマ:ECRスパッタ法を用いた高品質シリコン酸化膜の低温形成 |
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